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金屬材料化學(xué)成分分析用原子熒光光譜法介紹

一、 原子熒光光譜法的概念 原子熒光光譜法（AFS）是介于原子發(fā)射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術(shù)，是金屬材料化學(xué)成分分析測(cè)定砷、銻、鉍、汞、硒、鉛、鍺等微量元素的有效分析方法之一。 二、 原子熒光光譜法的原理 氣態(tài)的自由原子在吸收光譜的特征輻射之后，原子的外層電子將會(huì)從基態(tài)或是低能態(tài)躍遷到高能態(tài)，而后又躍遷回基態(tài)或低能態(tài)，并發(fā)射出同源激發(fā)輻射波長(zhǎng)相同或不同的輻射，這...

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射線無(wú)損探傷底片處理方法知多少

射線檢測(cè)由于能夠?qū)z測(cè)結(jié)果直接記錄在底片上，因此成為各種無(wú)損檢測(cè)方法中記錄最真實(shí)、最直觀、最全面、可追蹤性最好的檢測(cè)方法。射線檢測(cè)也因此在各個(gè)行業(yè)中得到了廣泛應(yīng)用。底片作為射線檢測(cè)信息的記錄載體，其質(zhì)量的優(yōu)劣直接關(guān)系到射線檢測(cè)的效果。底片的質(zhì)量不僅與現(xiàn)場(chǎng)射線透照工藝有關(guān)，而且與正確的暗室處理有關(guān)，但是人們往往重視了透照工藝而忽視了暗室處理。實(shí)際工作中由于暗室處理不當(dāng)引起的重拍比...